Use este identificador para citar ou linkar para este item:
https://rigeo.sgb.gov.br/handle/doc/22794
Registro completo
Campo DC | Valor | Idioma |
---|---|---|
dc.contributor.author | FREITAS, Marcos Alexandre de | - |
dc.contributor.author | SENHORINHO, Eliel Martins | - |
dc.contributor.author | REZENDE, Giana Grupione | - |
dc.date.accessioned | 2022-07-12T13:23:50Z | - |
dc.date.available | 2022-07-12T13:23:50Z | - |
dc.date.issued | 2021 | - |
dc.identifier.citation | FREITAS, Marcos Alexandre de; SENHORINHO, Eliel Martins; REZENDE, Giana Grupione (org.). Mapeamento geológico e hidrogeológico do município de Joinville – SC: produto 5, mapa de vulnerabilidade natural dos aquíferos. Porto Alegre: CPRM, 2021. Programa Geologia, Mineração e Transformação Mineral. | pt_BR |
dc.identifier.isbn | 978-65-5664-152-2 | - |
dc.identifier.uri | https://rigeo.sgb.gov.br/handle/doc/22794 | - |
dc.language.iso | pt_BR | pt_BR |
dc.publisher | CPRM | pt_BR |
dc.subject | GEOLOGIA | pt_BR |
dc.subject | HIDROGEOLOGIA | pt_BR |
dc.subject | SANTA CATARINA | pt_BR |
dc.subject | JOINVILLE | pt_BR |
dc.subject | VULNERABILIDADE DE AQUÍFEROS | pt_BR |
dc.title | Mapeamento geológico e hidrogeológico do município de Joinville – SC: produto 5, mapa de vulnerabilidade natural dos aquíferos | pt_BR |
dc.title.alternative | P 5 - mapa de vulnerabilidade natural dos aquíferos | pt_BR |
dc.type | Technical Report | pt_BR |
dc.local | Porto Alegre | pt_BR |
dc.description.notas | Contrato CPRM e Prefeitura Municipal de Joinville. | pt_BR |
Aparece nas coleções: | Relatórios Técnicos |
Arquivos associados a este item:
Arquivo | Descrição | Tamanho | Formato | |
---|---|---|---|---|
p5_vulnerabilidade aquiferos.pdf | Relatório | 13,94 MB | Adobe PDF | Visualizar/Abrir |
P5_apendice_B_DRASTIC.pdf | Mapa | 82,22 MB | Adobe PDF | Visualizar/Abrir |
P5_apendice_A_GODS.pdf | Mapa | 85,69 MB | Adobe PDF | Visualizar/Abrir |
O uso do material disponibilizado neste repositório deve ser feito de acordo e dentro dos limites autorizados pelos Termos de Uso.